Conférence présentée par M. Chen du Centre canadien de rayonnement synchrotron (Canadian Light Source) pour la conférence du 16 octobre.La spectrométrie d’absorption des rayons X sert à déterminer la structure locale d’un matériau. Son avantage est qu’elle est sélective quant à l’espèce atomique observée. Cette dénomination englobe aussi la spectroscopie XAFS (X-ray absorption fine structure) et XANES (X-ray Absorption Near Edge Structure). Ces deux techniques sont largement utilisées en chimie, minéralogie et science des matériaux pour déterminer l’environnement local dans les matériaux amorphes ou cristallins. Dans cette présentation, nous exposerons la théorie de l’EXAFS et nous donnerons quelques exemples de l’utilisation de cette technique pour déterminer la taille des cristallites, les groupes d’espaces, le taux d’occupation et la structure locale. Cette technique peut aussi identifier les espèces adsorbées en surface et la distorsion locale de la sous-couche.
Une partie de la présentation sera dédiée au Centre Canadien de rayonnement synchrotron (CLS): ses caractéristiques, ses disponibilités, quels types d’expériences peuvent y être menés ainsi que le support qui peut être donné aux usagers.
Cette conférence sera présentée en anglais.